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Nodulo tiroideo incidentale: un pericolo?

La rilevante espansione dell'ecografia ha comportato un aumento delle diagnosi di noduli tiroidei, molti dei quali non palpabili nel corso di un esame clinico, denominati noduli incidentali o anche "incidentalomi". La prevalenza del nodulo incidentale nelle varie casistiche scientifiche è sovrapponibile con la stessa rilevata in studi autoptici, attestandosi tra il 15 e il 50%. Gli interrogativi degli studiosi e del clinico sono essenzialmente rivolti alla gestione del nodulo incidentale. Il potenziale di malignita' del nodulo incidentale e' tuttora non chiaro, ma sembra piuttosto basso. Comunque, il carcinoma tiroideo diagnosticato in vita rappresenta la neoplasia endocrina più frequente ma con una prognosi generalmente buona.

I noduli incidentali possono essere indagati ulteriormentecon l'agoaspirazione sulla base delle caratteristiche considerate sospette: ipoecogenicità, aspetto solido, orletto assente, presenza di microcalcificazioni e vascolarizzazione intranodulare. Questa linea di condotta vale sia per i noduli isolati sia per il gozzo nodulare.

Caratteristiche predttive di noduli tiroidei maligni. Fujimoto, 1967

Nel lontano 1967 Fujimoto descrisse le caratteristiche ecografiche del carcinoma tiroideo, ed il suo lavoro conserva tuttora la sua validità: un nodulo isolato ipoecogeno, senza un orletto e con calcificazioni al suo interno è fortemente sospetto. La presenza di un pattern di tipo 3 al colorDoppler è indicativo di lesione maligna.

Videoclip su noduli incidentali della tiroide:

Bibbliografia noduli tiroidei - ecografia

Ecografia clinica. Busilacchi - Rapaccini. Idelson Gnocchi

L'ecografia nella patologia tiroidea - Teresa Rago, Aldo Pinchera, Paolo Vitti - Edizioni Plus - Pisa University Press

Il nodulo tiroideo: patogenesi e comportamento clinico nel carcinoma della tiroide - Centro Integrato di Endocrino-Chirurgia. Costanzo Moretti

JUS-Speciale 2009 - Standard per una corretta esecuzione dell'esame ecografico. Linee guida SIUMB.

Presentazione SIMG, Firenze 6-7 febbraio 2015.